Silicon nanocrystal slab optical waveguide by multi-energy ion implantation: Linear and nonlinear optical properties


Por: Lizarraga-Medina E.G., Can-Uc B., Oliver A., Rangel-Rojo R., Vázquez G.V., Salas-Montiel R., Tiznado H., Almaral J., Ruiz-Tijerina D.A., Marquez H.

Publicada: 1 ene 2024 Ahead of Print: 1 may 2024
Resumen:
Silicon nanocrystals (Si-nc) have gained attention in optics and photonics research areas in recent years due to their advanced optical nonlinear properties. However, a nonlinear integrated optical platform that allows the fabrication of photonic devices with different Si-nc composition is yet under investigation. In this work, we experimentally demonstrated a nonlinear optical waveguide based on ion implantation that offers advantages in terms of material composition, low propagation losses, and enhanced nonlinear optical properties, such as a high nonlinear refractive index. In this work we present the fabrication of Si-nc containing waveguiding structures, and a study of their linear and nonlinear optical properties. Our nonlinear integrated optical platform presents a two-photon absorption coefficient ß = 3.17 × 10-6 cm W-1 and a nonlinear refractive index n2 = 1.19 × 10-10 cm2 W-1, which shows potential applications in all-optical signal processing devices, such as single-photon sources. © 2024 Elsevier B.V.

Filiaciones:
Lizarraga-Medina E.G.:
 Facultad de Ciencias de la Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Baja California, Unidad Valle de las Palmas, Baja California, Tijuana, Mexico

Can-Uc B.:
 Centro de Nanociencias y Nanotecnología, Universidad Nacional Autónoma de México, Km 107 Carretera Tijuana-Ensenada S/n, Ensenada, 22860, B.C, Mexico

Oliver A.:
 Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Ciudad de México, 04510, Mexico

Rangel-Rojo R.:
 Departamento de Óptica, Centro de Investigación Científica y Educación Superior de Ensenada, A.P. 360, Ensenada, 22860, B.C, Mexico

Vázquez G.V.:
 Integrated Optics Laboratory, Centro de Investigaciones en Óptica, A. C., Loma Del Bosque 115, Lomas Del Campestre, Guanajuato, León, 37150, Mexico

Salas-Montiel R.:
 Laboratory Light, Nanomaterials and Nanotechnologies, L2n CNRS EMR 7004, Université de Technologie de Troyes, Troyes, 10004, France

Tiznado H.:
 Centro de Nanociencias y Nanotecnología, Universidad Nacional Autónoma de México, Km 107 Carretera Tijuana-Ensenada S/n, Ensenada, 22860, B.C, Mexico

Almaral J.:
 Universidad Autónoma de Sinaloa, Fuente de Poseidón y Prol, Ángel Flores S/N, Sinaloa, Los Mochis, C.P.81223, Mexico

Ruiz-Tijerina D.A.:
 Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Ciudad de México, 04510, Mexico

 Departamento de Física Química, Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Ciudad de México, 04510, Mexico

Marquez H.:
 Departamento de Óptica, Centro de Investigación Científica y Educación Superior de Ensenada, A.P. 360, Ensenada, 22860, B.C, Mexico
ISSN: 00304018
Editorial
ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, Países Bajos
Tipo de documento: Article
Volumen: 566 Número:
Páginas:
WOS Id: 001245327300001

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