Experimental Study of the Influence of CH4and H2on the Conformation, Chemical Composition, and Luminescence of Silicon Quantum Dots Inlaid in Silicon Carbide Thin Films Grown by Remote Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition


Por: León-Guillén R., Muñoz-Rosas A.L., Arenas-Alatorre J.A., Alonso-Huitrón J.C., Pérez-Martínez A.L., Rodríguez-Gómez A.

Publicada: 1 ene 2022
Resumen:
Silicon carbide (SiC) has become an extraordinary photonic material. Achieving reproducible self-formation of silicon quantum dots (SiQDs) within SiC matrices could be beneficial for producing electroluminescent devices operating at high power, high temperatures, or high voltages. In this work, we use a remote plasma-enhanced chemical vapor deposition system to grow SiC thin films. We identified that a particular combination of 20 sccm of CH4 and a range of 58-100 sccm of H2 mass flow with 600 °C annealing allows the abundant and reproducible self-formation of SiQDs within the SiC films. These SiQDs dramatically increase the photoluminescence-integrated intensity of our SiC films. The photoluminescence of our SiQDs shows a normal distribution with positive skewness and well-defined intensity maxima in blue regions of the electromagnetic spectrum (439-465 nm) and is clearly perceptible to the naked eye. © 2022 The Authors. Published by American Chemical Society.

Filiaciones:
León-Guillén R.:
 Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito de la Investigación Científica S/n, Ciudad Universitaria, A.P. 20-364, Coyoacán, Ciudad de México, 04510, Mexico

Muñoz-Rosas A.L.:
 Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito de la Investigación Científica S/n, Ciudad Universitaria, A.P. 20-364, Coyoacán, Ciudad de México, 04510, Mexico

Arenas-Alatorre J.A.:
 Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito de la Investigación Científica S/n, Ciudad Universitaria, A.P. 20-364, Coyoacán, Ciudad de México, 04510, Mexico

Alonso-Huitrón J.C.:
 Instituto de Investigaciones en Materiales, Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Ciudad Universitaria, A.P. 70-360, Coyoacan, 04510, Ciudad de México, Mexico

Pérez-Martínez A.L.:
 Facultad de Ingeniería, División de Ciencias Básicas, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito Exterior S/n, Ciudad Universitaria, Coyoacán, Ciudad de México, 04510, Mexico

Rodríguez-Gómez A.:
 Instituto de Física, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito de la Investigación Científica S/n, Ciudad Universitaria, A.P. 20-364, Coyoacán, Ciudad de México, 04510, Mexico
ISSN: 24701343
Editorial
AMER CHEMICAL SOC, 1155 16TH ST, NW, WASHINGTON, DC 20036 USA, Estados Unidos America
Tipo de documento: Article
Volumen: 7 Número: 23
Páginas: 19640-19647
WOS Id: 000811931600001
ID de PubMed: 35721970
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