Interferometric detection for terahertz microscopy


Por: Garcia-Jomaso, Angelica Y., Ludim Hernandez-Roa, Dahi, Luz Munoz-Rosas, Ana, Trevino-Palacios, Carlos G., Garduno-Mejia, Jesus, Kolokoltsev, Oleg, Qureshi, Naser

Publicada: 1 ene 2019
Resumen:
We describe an implementation of continuous wave microscopy in the millimeter - terahertz wave region in with phase imaging is realized using a simple low cost detection scheme. Samples are illuminated using a Backward Wave Oscillator system and a detection scheme is presented in which soft or semitransparent samples are imaged in reflection or transmission using an interferometer. The main advantage of this approach is that simple pyroelectric detectors can be used and can in principle be extended to use in near field measurements.

Filiaciones:
Garcia-Jomaso, Angelica Y.:
 Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Ciencias Aplicadas & Tecnol, Circuito Exterior S-N, Mexico City 04510, DF, Mexico

 Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, Universidad Nacional Autónoma de México (Mexico), Circuito Exterior S/N, Ciudad Universitaria, Mexico City, 04510, Mexico

Ludim Hernandez-Roa, Dahi:
 Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Ciencias Aplicadas & Tecnol, Circuito Exterior S-N, Mexico City 04510, DF, Mexico

Luz Munoz-Rosas, Ana:
 Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Ciencias Aplicadas & Tecnol, Circuito Exterior S-N, Mexico City 04510, DF, Mexico

Trevino-Palacios, Carlos G.:
 Inst Nacl Astron Opt & Elect, Puebla 72840, Pue, Mexico

Garduno-Mejia, Jesus:
 Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Ciencias Aplicadas & Tecnol, Circuito Exterior S-N, Mexico City 04510, DF, Mexico

Kolokoltsev, Oleg:
 Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Ciencias Aplicadas & Tecnol, Circuito Exterior S-N, Mexico City 04510, DF, Mexico

 Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, Universidad Nacional Autónoma de México (Mexico), Circuito Exterior S/N, Ciudad Universitaria, Mexico City, 04510, Mexico

Qureshi, Naser:
 Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Ciencias Aplicadas & Tecnol, Circuito Exterior S-N, Mexico City 04510, DF, Mexico

 Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, Universidad Nacional Autónoma de México (Mexico), Circuito Exterior S/N, Ciudad Universitaria, Mexico City, 04510, Mexico

Instituto Nacional de Astronomía, Óptica y Electrónica, Sta María Tonanzintla, Puebla, Pue., 72840, Mexico
ISSN: 0277786X
Editorial
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA, Estados Unidos America
Tipo de documento: Proceedings Paper
Volumen: 10917 Número:
Páginas:
WOS Id: 000468819000022